对数字集成电路进行检测，就是检测其输入引脚与输出引脚之间逻辑关系是否存在。由于数字集成电路种类太多，完成的逻辑功能又多种多样，逐项检测其指标高低是不现实的。比较简便易行的方法是，用万用表检测集成电路各引出脚与接地引脚之间的正、反向电阻值（即内部电阻值），并与正品的内部电阻值比较，便能很快确定被测集成电路的好坏。实践证明，这种检测数字集成电路好坏的方法是行之有效的，既适用于早期生产的 TTL 型数字电路，也适用于近几年生产的 MOS 集成电路。为防止检测 MOS 型数字电路时静电高压将其损坏，应尽量避免其输入端悬空，手腕上最好套一个接大地的金属箍。如需要用烙铁焊接时，烙铁要良好接地（可用三芯插头），或者拔下电源后再进行焊接，以避免烙铁因漏电而将其损坏。

在数字电路中，最基本的逻辑电路是门电路。用门电路可以组成各种各样的逻辑电路，因而门电路在数字电路中应用最多。基于这两方面的原因，下面主要介绍一下门电路性能的简便检测方法，简要介绍一下触发器、计数器的检测方法。

门电路的基本形式有“与”门、“非”门、“或”门、“与非”门、“或非”门，其代表符号和逻辑功能见表9-6。需指出的是，数字电路中的逻辑关系有正逻辑与负逻辑之分。若规定高电平为“1”，低电平为“0”，称为正逻辑；反之，若规定高电平为“0”，低电平为“1”，则称为负逻辑。

▼表9-6 几种门电路逻辑功能比较

下面以“与非”门电路作为例子，介绍一下其引脚判别及主要技术指标的检测方法，其余类型数字电路的检测方法，限于篇幅不再赘述。典型TTL“与非”门的主要参数见表9-7。

▼表9-7 典型TTL“与非”门的主要参数

注：*指用示波器测试tpt时，“与非”门输入端应接幅度为3V、频率为2MHz的方波信号。

“与非”门电路及其他数字电路电源引脚与接地引脚的安排方式有两种：左上角最边上的一只为电源引脚，右下角最边上的一只为接地脚，如图 9-20 所示；上边中间一只为电源引脚，下边中间一只为接地引脚，如图 9-21 所示。这两种引脚的安排方式，前一种最多，后一种较少，且多为国产老型号。

图9-20 数字电路的电源引脚和接地引脚